日前，体系结构顶级会议The 48th Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture发布论文录用消息，我系高性能所师生题为《双模式检查点生成：一种软件透明的保证持久性内存系统故障时数据一致性的机制》（“Dual-Scheme Checkpointing: A Software-Transparent Mechanism for Supporting Crash Consistency in Persistent Memory Systems”）的论文（作者：任晶磊、武永卫，其他合作者来自卡内基·梅隆大学等）被录用为长文。该文提出了一种支持软件透明的数据一致性保证机制，可以有效解决传统事务性内存等类似系统在可扩展性、易用性和可移植性等诸多方面的弊端。其双模式检查点生成技术，可以将检查点生成与程序执行过程重叠起来，并同时在两种粒度上生成检查点，显著提高了系统性能。基于该机制的混合非易失性内存设计，THNVM，相较于不提供一致性保证的全DRAM系统，在多种应用负载下带来的性能损失低于4.9%。

International Symposium on Microarchitecture创办于1968年，是由美国电气电子工程师学会（Institute of Electrical and Electronics Engineers）、美国计算机学会（Association for Computing Machinery）联合主办的体系结构领域的顶级会议，今年共收到投稿283篇，录用61篇。International Symposium on Microarchitecture将于今年12月在美国夏威夷召开。此前，近二十年来国内大陆高校作为第一完成单位在该会议被录用的论文不超过5篇。